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【干货】|陶瓷电容的失效原因分析


多层陶瓷电容的失效原因分为外部因素和内在因素。
a) 内在因素:
1.陶瓷介质内空洞 (Voids)导致空洞产生的主要因素为陶瓷粉料内的有机或无机污染,烧结过程控制不当等yy彩票注册|Welcome?yy彩票注册|Welcome?斩吹牟椎贾侣┑?yy彩票注册|Welcome,而漏电又导致器件内部局部发热,进一步降低陶瓷介质的绝缘性能从而导致漏电增加。该过程循环发生,不断恶化yy彩票注册|Welcome,严重时导致多层陶瓷电容器开裂、爆炸,甚至燃烧等严重后果。
2.烧结裂纹 (Firing Crack)烧结裂纹常起源于一端电极,沿垂直方向扩展。主要原因与烧结过程中的冷却速度有关,裂纹和危害与空洞相仿。
3.分层 (Delamination)多层陶瓷电容器(MLCC)的烧结为多层材料堆叠共烧yy彩票注册|Welcome。烧结温度可以高达1000℃以上。层间结合力不强,烧结过程中内部污染物挥发,烧结工艺控制不当都可能导致分层的发生。分层和空洞、裂纹的危害相仿,为重要的多层陶瓷电容器内在缺陷yy彩票注册|Welcome。
b) 外部因素:
1.温度冲击裂纹(Thermal Crack)主要由于器件在焊接特别是波峰焊时承受温度冲击所致,不当返修也是导致温度冲击裂纹的重要原因yy彩票注册|Welcome。
2.机械应力裂纹(Flex Crack)多层陶瓷电容器的特点是能够承受较大的压应力yy彩票注册|Welcome,但抵抗弯曲能力比较差。器件组装过程中任何可能产生弯曲变形的操作都可能导致器件开裂。常见应力源有:贴片对中,工艺过程中电路板操作;流转过程中的人、设备、重力等因素;通孔元器件插入;电路测试、单板分割;电路板安装;电路板定位铆接;螺丝安装等。该类裂纹一般起源于器件上下金属化端yy彩票注册|Welcome,沿45℃角向器件内部扩展。该类缺陷也是实际发生最多的一种类型缺陷yy彩票注册|Welcome。

本文引用

《无源滤波元器件-电容的介绍和深入认识》百度文库上的华为资料

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